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半導體四探針電阻率測試儀方阻儀 可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。
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